原著論文

• Md Mahamudul Hasan, Toyoko Arai, and Masahiko Tomitori, “Mechanical energy dissipation of an oscillating cantilever close to a conductive substrate partly covered with thin mica films evaluated by frequency modulation atomic force microscopy”, Jpn. J. Appl. Phys., 61, 065006 (2022).
• Jiaqi Zhang, Masahiko Tomitori, Toyoko Arai, and Yoshifumi Oshima, “Surface effect on Young’s modulus of sub-2 nanometer gold [111] nanocontacts”, Phys. Rev. Lett., 128, 146101-1-7(2022). doi: 10.1103/PhysRevLett.128.146101 (accepted 11 March 2022, Published 5 April 2022) (2020 IF: 9.161)
• Jiaming Liu, Jiaqi Zhang, Toyoko Arai, Masahiko Tomitori, Yoshifumi Oshima,”Critical shear stress of gold nanocontacts estimated by in-situ transmission electron microscopy equipped with a quartz length-extension resonator”, Appl. Phys. Exp., 14, 075006 (2021).
• Jiaqi Zhang, Keisuke Ishizuka, Masahiko Tomitori, Toyoko Arai, Kenta Hongo, Ryo Maezono, Erio Tosatti, and Yoshifumi Oshima, “Peculiar Atomic Bond Nature in Platinum Monatomic Chains”, Nano Lett., 21, 3922-3928 (2021).
• Jiaqi Zhang, Keisuke Ishizuka, Masahiko Tomitori, Toyoko Arai, Yoshifumi Oshima, “Atomic scale mechanics explored by in situ transmission electron microscopy with a quartz length-extension resonator as a force sensor”, Nanotechnology, 31(20), 205706 (2020).
• Keisuke Ishizuka, Masahiko Tomitori, Toyoko Arai and Yoshifumi Oshima, “Mechanical analysis of gold nanocontacts during stretching using an in-situ transmission electron microscope equipped with a force sensor”, Appl. Phys. Exp., 13,　025001 (2020).
• Hiroaki Ooe and Toyoko Arai, “Layer-by-layer dissolution and recovery of KBr(001) surfaces covered with a nanometer-thick water film caused with a pressing tip controlled by frequency modulation atomic force microscopy”, Appl. Phys. Exp., 12, 115002 (2019).
• Norio Okabayashi, Angelo Peronio, Magnus Paulsson, Toyoko Arai, and Franz J. Giessibl, “Vibrations of a molecule in an external force field”, Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America (Proc. Natl. Acad. Sci. USA: PNAS), 115, 4571-4576 (2018).
• Toyoko Arai, Daiki Kura, Ryo Inamura, and Masahiko Tomitori, “Resistivity change in Joule heat energy dissipation detected by noncontact atomic force microscopy using a silicon tip terminated with/without atomic hydrogen”, Jpn. J. Appl. Phys., 57,　08NB04　(2018).
• Toyoko Arai, Ryo Inamura, Daiki Kura, and Masahiko Tomitori, “Energy dissipation unveils atomic displacement in the noncontact atomic force microscopy imaging of Si(111)-(7 × 7)”, Phys. Rev. B, 97, 115428 (2018).
• Toyoko Arai, Kohei Sato, Asuka Iida and Masahiko Tomitori, “Quasi-stabilized hydration layers on muscovite mica under a thin water film grown from humid air”, Scientific Reports, 7, 4054-1-11 (2017).
• H. Ooe, D. Kirpal, D. S. Wastl, A. J. Weymouth, T. Arai, and F. J. Giessibl, “Amplitude dependence of image quality in atomically-resolved bimodal atomic force microscopy”, Applied Physics Letters, 109, 141603 (2016).
• Norio Okabayashi, Alexander Gustafsson, Angelo Peronio, Magnus Paulsson, Toyoko Arai, and Franz J. Giessibl, “Influence of atomic tip structure on the intensity of inelastic tunneling spectroscopy data analyzed by combined scanning tunneling spectroscopy, force microscopy, and density functional theory”, Phys. Rev. B, 93, 165415-1-6 (2016).
• Makoto Nogami, Akira Sasahara, Toyoko Arai, and Masahiko Tomitori, “Atomic-scale electric capacitive change detected with a charge amplifier installed in a non-contact atomic force microscope”, Appl. Phys. Express, 9, 046601-1-4 (2016).
• Hiroaki Ooe, Mikihiro Fujii, Masahiko Tomitori, and Toyoko Arai, “Evaluation and optimization of quartz resonant-frequency retuned fork force sensors with high Q factors, and the associated electric circuits, for non-contact atomic force microscopy”, Rev. Sci. Instrum., 87(2), 023702-1-8 (2016).
• Toyoko Arai, Masashi Koshioka, Kouhei Abe, Masahiko Tomitori, Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Hirofumi Yamada, Kei Kobayashi, and Noriaki Oyabu, “ Atom-resolved analysis of an ionic KBr(001) crystal surface covered with a thin water layer by frequency modulation atomic force microscopy”, Langmuir, 31 (13), 3876–3883 (2015).
• Takashi Nishimura, Akira Sasahara, Hideyuki Murata, Toyoko Arai, and Masahiko Tomitori, “Thermal Transformation of 4,4”-Diamino-p-Terphenyl on a Si(111)-7×7 Surface Analyzed by X-Ray Photoemission Spectroscopy and Scanning Tunneling Microscopy”, The Journal of Physical Chemistry C, 118(43), 25104-25109 (2014).
• Hiroaki Ooe, Tatsuya Sakuishi, Makoto Nogami, Masahiko Tomitori, and Toyoko Arai, “Resonance frequency-retuned quartz tuning fork as a force sensor for noncontact atomic force microscopy”, Appl. Phys. Lett., 105, 043107-1-043107-4 (2014).
• Yonkil Jeong, Masato Hirade, Ryohei Kokawa, Hirofumi Yamada, Kei Kobayashi, Noriaki Oyabu, Toyoko Arai, Akira Sasahara, Masahiko Tomitori, “Local interaction imaging by SiGe quantum dot probe”, Current Applied Physics, 12, 581-584 (2012).
• T. Arai, S. Gritschneder, L. Tröger and M. Reichling, “Atomic resolution force microscopy imaging on a strongly ionic surface with differently functionalized tips”, J. Vac. Sci. Technol. B, 28(6) 1279-1283 (2010).
• Takashi Nishimura, Atsushi Itabashi, Akira Sasahara, Hideyuki Murata, Toyoko Arai, and Masahiko Tomitori, “Adsorption State of 4,4’’-Diamino-p-terphenyl through an Amino Group Bound to Si(111)-7×7 Surface Examined by X-ray Photoelectron Spectroscopy and Scanning Tunneling Microscopy”, J. Phys. Chem. C, 114(25), 11109–11114(2010).
• Z.A. Ansari, T. Arai, and M. Tomitori, “Low-flux elucidation of initial growth of Ge clusters deposited on Si(111)-7×7 observed by scanning tunneling microscopy”, Phys. Rev. B, 79, 033302-1-033302-4 (2009).
• Z.A. Ansari, T. Arai, M. Tomitori, “Atomic force microscope Si tip with Ge clusters with the capability of remoulding by heating”, Nanotechnology 18, 084020-1-084020-6 (2007).
• Z.A. Ansari, M. Tomitori, T. Arai, “Evidence of temperature dependence of initial adsorption sites of Ge atoms on Si(111)-7×7”, Appl. Phys. Lett., 88, 171902-1-171902-3 (2006).
• T. Arai and M. Tomitori, “Electric conductance through chemical bonding states being formed between a Si tip and a Si(111)7×7 surface by bias-voltage noncontact atomic force spectroscopy”, Phys. Rev. B, 73, 073307-1-073307-4 (2006).
• M. Hirade, T. Arai and M. Tomitori, “Energy spectra of electrons backscattered from sample surfaces with hetero structures using field emission scanning tunneling microscopy“, Jpn. J.Appl. Phys. 45 (3B) , 2278-2282 (2006).
• T. Arai and M. Tomitori, “A Si nano-pillar grown on a Si tip by AFM in UHV for a high-quality scanning probe”, Appl. Phys. Lett. 86, 073110-1-073110-3 (2005).
• Z.A. Ansari, T. Arai, M. Tomitori, “Hexagonal arrangement of Ge clusters self-organized on a template of half unit cells of Si(111)-7 x 7 observed by scanning tunneling microscopy”, Surf. Sci. 574, L17-L22 (2005).
• T. Arai and M. Tomitori, ” Observation of Electronic States on Si(111)-7×7 through Short-Range Attractive Force with Noncontact Atomic Force Spectroscopy “, Phys. Rev. Lett., 93, 256101-1-256101-4 (2004).
• T. Arai, S. Gritschneder, L. Tröger and M. Reichling, “Carbon tips as sensitive detectors for nanoscale surface and sub-surface charge”, Nanotechnology, 15, 1302-1306 (2004).
• M. Tomitori and T. Arai, “Germanium Nanostructures on Silicon Observed by Scanning Probe Microscopy” MRS BULLETIN, 29(7), pp 484-487 (2004).
• M. Hirade, T. Arai and M. Tomitori, “Detection improvement for electron energy spectra for surface analysis using a field emission scanning tunneling microscope“, Jpn. J. Appl. Phys. 42 Pt. 1 (7B) 4837-4840 (2003).
• M. Gauthier, R. Perez, T. Arai, M. Tomitori, M. Tsukada, “Interplay between nonlinearity, scan speed, damping, and electronics in frequency modulation atomic-force microscopy“, Phys. Rev. Lett., 89, 146104-1-146104-4 (2002).
• T. Arai, M. Tomitori, M. Saito, E. Tamiya, “DNA molecules sticking on a vicinal Si(111) surface observed by noncontact atomic force microscopy“, Appl. Surf. Sci., 188, 474-480 (2002).
• T. Arai and M. Tomitori, “Germanium islands grown on a Si(111)7×7 surface observed by noncontact atomic force microscopy with simultaneous imaging on damping“, Appl. Surf. Sci., 188, 292-300 (2002).
• M. Tomitori, M. Hirade, Y. Suganuma and T. Arai, “An applicability of scanning tunneling microscopy for surface electron spectroscopy“, Surf. Sci., 493, 49-55 (2001).
• T. Arai and M. Tomitori, “Simultaneous imaging of tunneling current and damping energy by noncontact-AFM in ultrahigh vacuum“, Appl. Phys. A, 72, S51-S54 (2001).
• T. Arai and M. Tomitori, “Simultaneous imaging of tunneling current variation by noncontact atomic force microscopy in ultrahigh vacuum“, Jpn. J. Appl. Phys. Part 1 (6B), 39, 3753-3757 (2000).
• T. Arai and M. Tomitori, “Bias dependence of Si(111)7×7 images observed by noncontact atomic force microscopy“, Appl. Surf. Sci., 157, 207-211 (2000).
• T. Arai and M. Tomitori, “Atomic force microscope tip sharpening and evaluation by electric field confinement using a metal grid approached to the tip“, J. Vac. Sci. Technol. B, 18, 648-652 (2000).
• M. Tomitori, H. Terai and T. Arai, “Energy spectrum of backscattered electrons excited by a field emission STM with a build-up [111]-oriented W tip“, Appl. Surf. Sci., 144-145, 123-127 (1999).
• T. Arai and M. Tomitori, “Interaction measurements between a tip and a sample in proximity region controlled by tunneling current in a UHV STM-AFM“, Appl. Surf. Sci., 144-145, 501-504 (1999).
• M. Tomitori and T. Arai, “Tip cleaning and sharpening processes for noncontact AFM in ultrahigh vacuum“, Appl. Surf. Sci., 140, 432-438 (1999).
• T. Arai and M. Tomitori, “Removal of contamination and oxide layers from UHV-AFM tips“, Appl. Phys. A, 66, S319-S323 (1998).
• T. Arai and M. Tomitori, ” Scanning Auger electron microscopy evaluation and composition control of cantilevers for ultrahigh vacuum atomic force microscopy“, Jpn. J. Appl. Phys., 36, 3855-3859 (1997).
• T. Arai and M. Fujihira, “Effects of electric potentials on surface forces in electrolyte solutions“, J. Vac. Sci. Technol. B, 14, 1378-1382 (1996).
• T. Arai, D. Aoki, Y. Okabe and M. Fujihira, “Analysis of surface forces on oxides in aqueous solutions using AFM“, Thin Solid Films, 273, 322-326 (1996).
• T. Arai and M. Fujihira, “Effect of tip shape on force-distance curves of AFM in aqueous electrolytes“, J. Electroanal. Chem., 374, 269-273 (1994).
• Y. Hayakawa, Y. Murakami, T. Arai, K. Tagami, A. Hirano, M. Miyazaki, T. Iwakura, “13 MB FDD Downward R/W Compatible Magnetic Head”, IEEE Trans. J. Mag. Jpn., 6, 261-272 (1991).
• K. Tagami, T. Takeda, T. Arai and H. Hayashida, “Seek durability for CoCrTa perpendicular flexible disks“, IEEE Trans., MAG-26, 2694-2696 (1990).
• T. Arai and K. Tagami, “Friction characteristics for double-sided perpendicular recording flexible disks”, Trib. and mech. of Magnetic Storage Systems, 6 SP-26, 15-20 (1989).
• K. Tagami, H. Tamai, H. Hayashida and T. Arai, “Pass wear resistance for perpendicular recording media“, IEEE Trans., MAG-24, 2655-2657 (1988).

プロシーディングス

• M. Tomitori and T. Arai, “Nanoscale Manipulation and Characterization Using SPM-Based Instruments”, The Fifteenth International Conference on COMPOSITES/NANO ENGINEERING (ICCE – 15) Proceedings, pp 950-953 (2007).
• T. Arai and M. Tomitori, “In-situ preparation of noncontact AFM tips for surface force spectroscopy”, the proceedings of 8th Asia-Pacific conference on electron microscopy (8APEM) , pp 204-205 (2004).
• M. Tomitori and T. Arai, “Simultaneous measurements of surface topography and damping energy by noncontact AFM”, the proceedings of 7th world multiconference on systemics, cybernetics and informatics VIII, pp 319-323 (2003).

総説

• 大島義文，石塚慧介，張家奇，富取正彦，新井豊子: 「その場TEM 法による金属ナノ接点の力学測定」、Measurement of Mechanical Properties of Metal Nanocontacts by in-situ TEM, 顕微鏡 56 (1), pp13-17 (2021).
• 新井豊子：「周波数変調原子間力顕微鏡で測定するエネルギー散逸」” Energy dissipation detected by frequency modulation atomic force microscopy” 、表面と真空(Vacuum and Surface Science), 61(10), 632-638 (2018)
• 岡林則夫, Alexander GUSTAFSSON, Angelo PERONIO, Magnus PAULSSON, 新井豊, Franz J GIESSIBL：「プローブ顕微鏡における探針先端の幾何学的形状と非弾性電子トンネル分光における信号強度の関係」” Relationship between the Geometrical Structure of a Tip Apex of a Scanning Probe Microscope and the Intensity of the Signal in Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy” 表面と真空(Vacuum and Surface Science) , 61(10), 651-656 (2018)
• 新井豊子: 「極薄水膜内の固液界面の原子スケール周波数変調AFM 観察」、顕微鏡 51 (2), pp72-77 (2016).
• 富取 正彦、新井 豊子： “走査型プローブ顕微鏡にみる電圧印加のナノ力学的相互作用“、表面科学 29 (4) (2008) 239-245.
• 富取 正彦、新井豊子: 「最近の研究と技術 “電圧印加非接触原子間力顕微鏡 法を利用した探針−試料間の相互作用力分光法」、顕微鏡 40 (3), pp193-195 (2005).
• 新井豊子、富取 正彦: 「電圧印加非接触原子間力分光法による量子力学的共鳴相互作用の測定」、固体物理40 (8), pp581-590 (2005).
• 新井豊子: 「NC-AFM像の印加電圧依存性と画像化技術」技術ノート（非接触原子間力顕微鏡の新技術） 応用物理　第70巻　第10号　pp1205-1207(2001).
• 富取正彦・新井豊子:＜トンネル顕微鏡技術の基礎＞装置・手法としての可能性と限界、応用物理　第69巻　第4号　pp435-438(2000).
• 新井豊子、田上勝通: “垂直磁気フロッピーディスクのヘッド振動の検討”,  電子情報通信学会技術研究報告（信学技法）, MR90-11, pp9-16 (1990).
• 新井豊子、田上勝通: “Co-Cr垂直記録媒体の動摩擦特性”, 電子情報通信学会技術研究報告（信学技法）, MR89-3, pp15-21 (1989).

著書

• 新井 豊子「第1章 1.19 原子間力顕微鏡（AFM）による化学結合力計測」、「問題と解説で学ぶ表面科学」日本表面科学会編集(2013)
• 新井豊子「発展編第10章 非接触AFMの発展」pp.357-363、「走査プローブ顕微鏡—正しい実験とデータ解析のために必要なこと—」責任編集：重川秀実、吉村雅満、河津璋（共立出版、2009）
• 新井豊子「Chapter 1 機械工学」 pp.7-21、「ナノテクのための工学入門」日本表面科学会編集 (共立出版、2007)
• 富取正彦、新井豊子「4.4 散逸・非保存力測定」pp.196-207、「実践ナノテクノロジー・走査プローブ顕微鏡と局所分光」（裳華房、2005）
• 富取正彦、新井豊子「第２章 2.3 ダンピングの測定方法」pp. 22-26、「第２章2.7 NC-AFM/STM同時測定」 pp. 42-45、「第４章 半導体のナノ力学的複合測定」 pp. 93-103、「原子分子のナノ力学」森田 清三 編（丸善、2003）
• T. Arai and M. Tomitori: “4　Bias dependence of NC-AFM images and tunneling current variations on semiconductor surfaces”, pp.79-92, “Noncontact Atomic Force Microscopy”, edited by S. Morita, R. Wiesendanger and E. Meyer, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, (2002).
• M. Tomitori and T. Arai: “Applicability and limitation of scanning probe microscopies for catalytic materials”, pp. 138-145, “Micro-kinetics and dynamics of individual active sites in catalytic reactions”, edited by M. Terano and N. Otsuka, Technology and Education Publishers, Tokyo (2001).

国際会議招待講演

• Toyoko Arai, “Quasi-stabilized hydration layer on a muscovite mica surface covered with a nanometer-thick water film”,　The 3rd International Symposium on “Recent Trends in the Elucidation and Function Discovery of Next Generation Functional Materials of Surface / Interface Properties”, June 18-20, 2018, at Osaka University, Japan.
• M. Tomitori, T. Arai and M. Hirade “Surface electron spectroscopy using scanning probe microscopy from field-emission to force interaction under a tip-sample bias voltage”, 2007 MRS Fall Meeting, Nov. 26-30, 2007, at Boston, USA.
• Masahiko TOMITORI, Yoshihiko OOKUBO, Masayasu TANI and Toyoko ARAI, “Nanoscale manipulation and characterization using SPM-based instruments”, The Fifteenth International Conference on Composites/Nano Engineering, July 15-21, 2007, at Hainan, China.
• T. Arai, “Nanoscale force interaction and conductance measurements using bias-voltage noncontact atomic force microscopy/spectroscopy”, International Conference on Nanoscience and Technology（ICN+T 2006）, July 30 – Aug. 4, 2006, at Basel, Switzerland.
• M. Tomitori and T. Arai, “Noncontact atomic force microscopy/spectroscopy with changing bias voltage for interaction analysis between two bodies”, 11th International Ceramics Congress, Jun 6-10, 2006, at Sicily, Italy.
• T. Arai and M. Tomitori, “Bias-Voltage Dependence of Chemical Bonding Force Detected by Noncontact Atomic Force Microscopy/Spectroscopy”, The 13th International Conference on Scanning Tunneling Microscopy and Related Techniques (STM’05), 2005. July 3-8, 2005, at Sapporo, Japan.
• T. Arai and M. Tomitori, “In-situ preparation of noncontact AFM tips for surface force spectroscopy”, The 8th Asia-Pacific Conference On Electron Microscopy, Jun 7-11, 2004, at Kanazawa, Japan.

国内学会招待講演

• 新井豊子「ナノ水膜中の固液界面の周波数変調AFMによる力学計測」2021年日本物理学会　第76回年次大会、シンポジウム「先進的計測・理論による表面界面ナノ研究の新展開」一般シンポジウム講演、2021年3月12〜15日オンライン開催
• 新井豊子「探針と試料間で散逸する微小な力学エネルギーの周波数変調原子間力顕微鏡による測定」2019年日本表面真空学会学術講演会、依頼講演、2019年10月29日つくば国際会議場
• 新井豊子「周波数変調原子間力顕微鏡で測定するエネルギー散逸」2018年日本表面真空学会学術講演会、依頼講演、2018年11月19日神戸国際会議場
• 新井豊子「FM-AFMの新展開 -UHVから大気中まで-」応用物理学会 薄膜・表面物理分科会　2018年度第１回研究会招待講演、2018年10月１３日　金沢　JAIST駅前オフィース
• 新井豊子「超高真空原子間力顕微鏡によるエネルギー散逸計測の高感度化」顕微鏡学会走査型プローブ顕微鏡分科会研究会 −超高真空原子間力顕微鏡の最前線−、2017年2月3日産総研臨海副都心
• 新井豊子基調講演「極薄水膜内の固体表面の原子スケール周波数変調AFM観察」界面ナノ電子化学研究会フォーラム2016 —半導体ウエットプロセスの未来を考える−、2016年10月28日、諏訪
• 新井豊子「nc-AFM とSTMの像解析と分光」、日本顕微鏡学会走査型プローブ顕微鏡分科会「超高真空走査型プローブ顕微鏡法の最近の展開」2013年１月２３日大阪大学大学院工学研究科（吹田キャンパス）
• 新井豊子「走査型トンネル顕微鏡/非接触原子間力顕微鏡で捉えるナノサイエンス」2009 年度 日本物理学会北陸支部定例学術講演会　特別講演2009.12.5、金沢大学
• 新井豊子「非接触原子間力顕微鏡による相互作用力・電流・散逸エネルギー測定による表面解析」第70回応用物理学会学術講演会シンポジウム日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会企画「非接触原子間力顕微鏡で拓くナノテク最前線」2009年9月8日、富山大学
• 新井豊子「電圧印加非接触原子間力分光法による２物体間結合力の共鳴的増大」日本物理学会2007年春季大会、2007年3月18日、鹿児島大学
• 新井豊子「電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法による量子力学的共鳴相互作用の測定」第26回表面科学講演大会、2006年11月8日、大阪大学

特許

• 「ポジショニング機構、及び、それを用いた顕微鏡」
  特許番号：第4644821号
  米国特許 “Positioning mechanism and microscope with the same”, US patent, US 7,672,048 B2
• 「走査型プローブ顕微鏡用探針の製造方法」
  特許番号：第3753701号
• 「試料表面の電子エネルギ準位の測定方法」
  特許番号：第4576520号
• 「原子または分子の同定方法」
  特許番号：第4822563号

受賞

令和3年度文部科学大臣表彰　科学技術賞（研究部門）受賞

業績名：原子間相互作用力計測法の開拓と固体表面上のナノ水膜の研究

第40回（2018年度）応用物理学会優秀論文賞

論文名：Atomic-scale electric capacitive change detected with a charge amplifier installed in a non-contact atomic force microscope
掲載誌：Appl. Phys. Express 9 (2016) 046601
授与機関：応用物理学会
The 40th JSAP Outstanding Paper Award

平成１６年度 ナノプローブテクノロジー賞

授与機関：日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第１６７委員会
業績名：電圧印加非接触原子間力(顕微鏡)分光法の開発
Nano-Probe Technology Award from the 167th Committee on Nano-Probe Technology of JSPS

学生の受賞

令和4年度物理学コース卒業論文 最優秀論文賞

• 島 尚生

令和３年度物理学コース卒業論文 最優秀論文賞

• 高畠 侑馬

令和２年度物理学コース卒業論文 最優秀論文賞

• 浜本 和

令和元年度物理学コース卒業論文 最優秀論文賞

• 山本 愛羅

平成28年度物理学コース卒業論文 最優秀論文賞

• 丸山　天悟

平成27年度物理学コース卒業論文 最優秀論文賞

• 加藤　貴洋
• 村上　拓

平成26年度物理学コース卒業論文 最優秀論文賞

• 稲村　竜

平成25年度物理学コース卒業論文 最優秀論文賞

• 橋本　遼太

平成24年度物理学コース卒業論文 最優秀論文賞

• 阿部　晃平
• 北村　裕衣

第16回（2011年度）応用物理学会北陸・信越支部発表奨励賞

• 池島 達弥

研究費

科研費 KAKENHI

• 令和4(2022) -6(2024)年度、基盤研究(A)一般、「ナノ力学に基づく探針振動同期励起による原子レベルの赤外分光」
• 令和3(2021)-5(2023)年度、挑戦的研究（開拓）、「周波数変調/同期法を利用したナノ力学による原子レベルの顕微鏡/分光法の開拓」
• 平成30(2018)-令和3年(2021)度、挑戦的研究（開拓）、「固体上のナノ水膜の準液体性の解明とその特異性を活かしたナノ水膜内の科学技術の開拓」
• 平成28-30年度、基盤研究(A)一般、「固体表面と極薄水膜界面の原子レベル解析と反応過程の制御」
• 平成26-27年度、挑戦的萌芽、「電圧印加非接触原子間力顕微鏡／分光法による水素結合の原子分解能解析」
• 平成24-26年度、基盤研究(Ｂ)一般、「走査型プローブ顕微鏡による２物体接近時のトンネル障壁崩壊に伴う力と電流変化の解析」
• 平成21-22年度、挑戦的萌芽、「超高感度電気容量測定法の開発による単分子デバイスへの展開」
• 平成20-23年度、基盤研究(Ｂ)一般、「探針−試料間電圧印加チューニングによる結合形成過程の原子分解能・顕微分光解析」
• 平成17-19年度、基盤研究(Ｂ)一般、「共鳴的相互作用を利用した１分子の力学・電子物性計測」
• 平成12-13年度、基盤研究（一般（Ｃ））、「表面相互作用力の特性を利用した超高真空原子間力顕微鏡による表面電子状態の解析」
• 平成9-10年度、奨励（Ａ）、「超高真空原子間力顕微鏡のための”その場”単原子探針形成法と組成制御法の研究」

日本学術振興会（JSPS）科研費以外

• 頭脳循環を加速する若手研究者戦略的海外派遣プログラム
  平成25-27年度　「非接触原子間力顕微鏡／走査型トンネル顕微鏡で拓くボトムアップナノテクノロジー」

科学技術振興機構(JST)

• 平成20-22年度、先端計測分析技術・機器開発事業、（分担）「大気中・液中で動作する原子分解能分析顕微鏡」
• 平成18-20年度、戦略的創造研究推進事業 発展研究（SORST）、「走査型相互作用分光顕微鏡による表面単一分子の力学・電子物性計測」
• 平成17-19年度、JSTイノベーションプラザ石川 育成研究、 （分担）「ペンシル型走査型プローブ顕微鏡の開発」
• 平成16年度、研究成果活用ﾌﾟﾗｻﾞ石川の可能性試験(FS委託研究)、「高分解能走査型顕微鏡/原子間力顕微鏡複合機の開発」
• 平成14-17年度、戦略的創造研究推進事業 さきがけ、「走査型相互作用分光顕微鏡の開発とナノ構造創製への応用」

民間研究助成

• 平成23年10月-24年9月　三菱財団自然科学研究助成、「走査型プローブ顕微鏡を利用した1分子の高感度電気インピーダンス測定」
• 平成11年度、公益信託　林女性自然科学者研究助成基金、「原子・分子修飾探針をもつ超高真空原子間力顕微鏡による表面反応活性の研究」
• 平成11-12年度、（財）旭硝子財団、「超高真空原子間力顕微鏡のための単原子探針・分子修飾探針の作製と表面活性点の原子スケール解析への応用」